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掃描電鏡是使用最廣泛的儀器之一

返回列表 來(lái)源:三本測(cè)量 瀏覽:- 發(fā)布日期:2021-04-15 10:28:39【

       掃描電鏡是使用最廣泛的儀器之一。掃描電鏡主要由冷卻循環(huán)水系統(tǒng),電子光學(xué)系統(tǒng),真空系統(tǒng),信號(hào)檢測(cè),處理和顯示系統(tǒng),圖像記錄系統(tǒng),樣品室和電源系統(tǒng)組成。

在掃描電子顯微鏡之前,應(yīng)對(duì)樣品進(jìn)行相應(yīng)的處理。掃描電子顯微鏡不僅可以檢測(cè)二次電子圖像,還可以檢測(cè)反向散射電子,透射電子,特征X射線,陰極發(fā)光和其他信號(hào)圖像。成像原理與二次電子圖像相同。

掃描電子顯微鏡是使用最廣泛的儀器之一。它可以進(jìn)行以下基本分析:具有許多卓越性能的多功能儀器。

1.納米材料的觀察:具有很高的分辨率,當(dāng)組分材料的顆?;蛭⒕С叽缭?.1-μm的范圍內(nèi)時(shí),可以觀察在保持表面清潔的條件下通過(guò)壓模獲得的固體材料。 100納米

2,材料斷裂的分析:其景深,圖像富有三維感,具有三維形狀,可以從斷裂形態(tài)上顯示出材料斷裂的本質(zhì),在材料斷裂原因分析,事故原因分析中而過(guò)程合理性是一種有力的手段。

3,直接觀察原始樣品表面:可以直接觀察直徑為100 mm,高50 mm或較大尺寸的樣品,樣品沒(méi)有任何限制,可以檢測(cè)出粗糙表面的形狀,它將消除了制備樣品的必要性,并且可以真正觀察樣品本身具有不同對(duì)比度(反向散射電子)的材料成分。

4,觀察厚樣品:當(dāng)觀察厚樣品時(shí),可以獲得高分辨率和最真實(shí)的形態(tài)。

5,觀察樣品每個(gè)區(qū)域的細(xì)節(jié):樣品在樣品室中可以在非常大的范圍內(nèi)移動(dòng),可以在三個(gè)自由度內(nèi)移動(dòng)(三個(gè)空間平移,三個(gè)空間旋轉(zhuǎn)),這帶來(lái)了非常方便地觀察每個(gè)區(qū)域中樣品的不規(guī)則形狀。

6,在大視野下,以低倍率觀察樣品,使用掃描電鏡觀察大視野下的樣品:在大視野下,以低倍率觀察樣品的形態(tài)在某些領(lǐng)域是必要的,例如犯罪偵察和考古學(xué)。

7.從高倍率到低倍率的連續(xù)觀察:掃描電子顯微鏡具有廣泛的倍率范圍(從50,000到200,000倍連續(xù)可調(diào)),并且可以在從高倍率到低倍率以及從低倍率到高倍率后連續(xù)觀察。無(wú)需重新聚焦即可聚焦,這對(duì)于分析特別方便。

8.觀察生物樣品:由于樣品在電子輻照表面上的損壞和污染程度很小,因此觀察一些生物樣品尤為重要。

9,動(dòng)態(tài)觀察:如果樣品室配備有加熱,冷卻,彎曲,拉伸和離子蝕刻配件,則可以觀察動(dòng)態(tài)變化過(guò)程的相變,斷裂強(qiáng)度等。

如圖10所示,從樣品表面形態(tài)獲得各種數(shù)據(jù):由于掃描電子圖像不是同時(shí)記錄的,因此根據(jù)這種組成將其分解為近一百萬(wàn)個(gè)連續(xù)記錄。掃描電子顯微鏡(SEM)不僅可以分析表面形態(tài),還可以分析成分和元素,還可以通過(guò)電子通道圖案進(jìn)行晶體學(xué)分析,選擇尺寸范圍為10μm至3μm。

現(xiàn)在,掃描電子顯微鏡(sem)已廣泛用于材料科學(xué),金屬材料,非金屬材料,納米材料),冶金,生物學(xué),醫(yī)學(xué),半導(dǎo)體材料和設(shè)備,地質(zhì)勘探,植物病蟲(chóng)害的預(yù)防,災(zāi)難(火災(zāi)) ,故障分析)評(píng)估,犯罪偵查,寶石鑒定,產(chǎn)品鑒定和工業(yè)生產(chǎn)中的生產(chǎn)過(guò)程控制等。 

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