德國(guó)蔡司ZEISS場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA系列介紹
聚焦卡爾·蔡司
全球電鏡標(biāo)準(zhǔn)締造者
SIGMA 300
ZEISS場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA 300
蔡司公司推出Sigma 300場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì),將低電壓成像技術(shù)發(fā)揮到了極致,采用適宜的探針電流范圍,降低50%的信噪比從而提升了85%的襯度信息。
Sigma300將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,多種探測(cè)器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma自動(dòng)的四步工作流程大大節(jié)省了設(shè)置與分析操作的時(shí)間,提高效率。
SIGMA 500
ZEISS場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SIGMA 500
蔡司公司推出的Sigma 500場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì),分辨率超過(guò)0.8nm,提供優(yōu)秀分辨率和分析性能科研平臺(tái)。
Sigma500專(zhuān)注于一流的EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)可以獲取精湛的分析性能。借助Sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡(jiǎn)化分析程序、提高工作效率。比以往更快、更多的獲取數(shù)據(jù)。多種探測(cè)器的選擇使Sigma500可以精準(zhǔn)的匹配應(yīng)用程序:獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)、薄膜、涂層和多層的圖像信息。
■ 產(chǎn)品應(yīng)用
掃描電鏡廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測(cè)量。
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