蔡司顯微鏡如何提高增材制造
蔡司顯微鏡在粉末和材料表征,印后熱處理和部件去除,缺陷和內(nèi)部結(jié)構(gòu)檢查,印后材料質(zhì)量檢查,尺寸和表面檢查等方面提供全面的解決方案。
蔡司顯微鏡可以提供微米和納米級(jí)別的材料表面特征視圖,從而為增材制造中的質(zhì)量檢查,失效分析和材料研究提供準(zhǔn)確的信息。
高分辨率X射線(xiàn)顯微鏡可以提供有關(guān)內(nèi)部結(jié)構(gòu)的微米和納米級(jí)信息,可以解決非常復(fù)雜的內(nèi)表面的增材制造中質(zhì)量控制和開(kāi)發(fā)的所有挑戰(zhàn)。
增材制造(Additive Manufacturing,AM)技術(shù)是采用材料逐漸累加的方法制造實(shí)體零件的技術(shù),相對(duì)于傳統(tǒng)的材料去除-切削加工技術(shù),是一種"自下而上"的制造方法。近二十年來(lái),AM技術(shù)取得了快速的發(fā)展,"快速原型制造(Rapid Prototyping)"、"三維打印(3D Printing )"、"實(shí)體自由制造(Solid Free-form Fabrication) "之類(lèi)各異的叫法分別從不同側(cè)面表達(dá)了這一技術(shù)的特點(diǎn)。西方媒體把這種實(shí)體自由成形制造技術(shù)譽(yù)為將帶來(lái)"第三次工業(yè)革命"的新技術(shù)。
1、粉末材料的表征
各種粉末材料作為增材制造的原材料,對(duì)其質(zhì)量的把關(guān)是增材制造質(zhì)量控制的第一步。粉末顆粒的尺寸大小、尺寸分布、形狀、表面形貌、內(nèi)部致密性等,不僅影響打印后產(chǎn)品的性能而且還會(huì)影響整個(gè)工藝過(guò)程。?
√利用蔡司光學(xué)顯微鏡能夠快速得到粉末顆粒尺寸分布信息
√利用蔡司掃描電子顯微鏡能夠獲取極小至納米尺度的顆粒尺寸信息,顆粒表面形貌信息,以及顆粒的成份信息
√利用蔡司 X射線(xiàn)顯微鏡能夠?qū)︻w粒形狀、尺寸和體積分布進(jìn)行詳細(xì)分析。分析粉末床壓實(shí)度與形狀的關(guān)系有助于確定合適的工藝參數(shù),縮短最佳打印配方的開(kāi)發(fā)。?
2、印后產(chǎn)品缺陷與內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀察
粉末的質(zhì)量以及在構(gòu)建過(guò)程中的分散方式可能會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品結(jié)構(gòu)中形成空隙或材料雜質(zhì)。使用蔡司光學(xué)顯微鏡檢查產(chǎn)品構(gòu)建質(zhì)量或使用高分辨率 X 射線(xiàn)顯微鏡檢查內(nèi)部結(jié)構(gòu)有助于確定工藝參數(shù)的影響,并更快地定義實(shí)現(xiàn)最佳產(chǎn)品質(zhì)量的工藝參數(shù)。
√通過(guò)光學(xué)顯微鏡的使用,對(duì)產(chǎn)品表面特征的特寫(xiě)提供了對(duì)零件質(zhì)量和工藝參數(shù)可能存在 的缺陷,從而更好地了解微裂紋和分層的起源。
√增材制造為前所未有的設(shè)計(jì)自由打開(kāi)了大門(mén),允許復(fù)雜的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。高分辨率 X 射線(xiàn)顯 微鏡能夠?qū)@些結(jié)構(gòu)進(jìn)行獨(dú)特的觀察,并分析潛在的內(nèi)部缺陷。
√ X射線(xiàn)顯微鏡檢測(cè)可以提供構(gòu)建完整性的獨(dú)特視圖,并顯著幫助優(yōu)化 3D 打印過(guò)程。零件的掃描圖像可以在任何方向上進(jìn)行橫切,并與 CAD 標(biāo)準(zhǔn)圖表進(jìn)行比較。?
3、印后產(chǎn)品材料質(zhì)量檢測(cè)
與傳統(tǒng)的制造方法不同,增材制造工藝要求粉末在制造過(guò)程中熔化。因此熔融溫度等工藝參數(shù)極大地影響晶體結(jié)構(gòu)以及零件性能。
√利用光學(xué)顯微鏡表征使用短的局部激光束熔融顆粒的結(jié)構(gòu)形態(tài)
△AlSi10Mg 沿建造方向橫截面
√利用電子背散射衍射(EBSD)的掃描電鏡,可以對(duì)晶體或多晶材料進(jìn)行微觀結(jié)構(gòu)的晶體 學(xué)表征和研究。
△EBSD 晶體取向圖,單個(gè)晶粒著色,看不見(jiàn)激光加工痕跡
√用于傳統(tǒng)生產(chǎn)和增材制造的原材料,相同的材料可以具有完全不同的晶體結(jié)構(gòu)。這種差異將極大地影響成品零件的機(jī)械性能。
△傳統(tǒng)生產(chǎn)與增材制造 AlSi10Mg 結(jié)構(gòu)的比較
4、印后產(chǎn)品表面質(zhì)量檢測(cè)
表面粗糙度對(duì)零件的機(jī)械和視覺(jué)質(zhì)量至關(guān)重要。增材制造的零件可能非常復(fù)雜,隱藏的內(nèi)部結(jié)構(gòu)無(wú)法接近。使用高相關(guān)光學(xué)輪廓儀和高分辨率 X 射線(xiàn)顯微鏡,無(wú)論在零件內(nèi)部或外部位置進(jìn)行詳細(xì)的表面分析。
√利用光學(xué)共聚焦顯微鏡能夠快速獲取零件表面符合 ISO 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的微觀粗糙度,利用 X 射線(xiàn)顯微鏡能夠獲取零件內(nèi)表面符合 ISO 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的微觀粗糙度
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